一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统与流程

本发明涉及半导体器件建模领域，特别是涉及一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统。

背景技术：

在现有spice建模技术中，业界通用的最优器件选择方法是根据mapping测试数据，使用excel对每个器件测试结果的各项指标(vtlin,vtsat,idlin,idsat等)进行计算筛选，设定一定范围，根据各项指标结果综合考虑评估，各项指标都在范围内的几个die进行建模。这种选择方法存在两个主要的问题：其一，计算过程异常繁琐，容易出错，耗费时间；其二，选出的器件只是在较好的范围内，但不能保证是最优器件。

技术实现要素：

为克服上述现有技术存在的不足，本发明之目的在于提供一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统，以对器件建模中最优器件的选择进行改进，保证最后选择的器件是最优器件。

为达上述及其它目的，本发明提出一种器件建模中最优器件的自动选择方法，包括如下步骤：

步骤一，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取；

步骤二，将各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重；

步骤三，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模。

进一步地，于步骤一中，根据mapping测试的结果，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取。

进一步地，于步骤三中，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件计算综合误差，根据综合误差选择综合误差最小的器件为最优器件。

进一步地，于步骤三中，利用以下计算公式计算该综合误差：

err＝a1*f(vtlin-median(∑vtlini))+a2*f(vtsat-median(∑vtsati))+a3*f(idlin-median(∑idlini))+a4*f(idsat-median(∑idsati))+a5*f(vtgm-median(∑vtgmi))+a6*f(ioff-median(∑ioffi))+a7*f(gm-median(∑gmi))+a8*f(gdx-median(∑gdxi))

其中，vtlin，vtsat，vtgm，idlin，idsat，ioff，gm，gdx为测试结果的各项指标，ai代表各项指标的比重系数；f()代表归一化函数，median(∑vtlini)代表一颗器件的mapping数据的vtlin取median值，其他项同理，err为综合误差，与median数据综合误差值最小的器件即是最优器件。

进一步地，a1+a2+…+a8＝1。

为达到上述目的，本发明还提供一种器件建模中最优器件的自动选择系统，包括：

指标获取单元，用于对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取；

归一化处理单元，用于将各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重；

最优器件选择单元，用于利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模。

进一步地，该指标获取单元根据mapping测试的结果，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取。

进一步地，该最优器件选择单元利用设定的比重对各个不同尺寸的器件计算综合误差，根据综合误差选择综合误差最小的器件为最优器件。

进一步地，该最优器件选择单元利用以下计算公式计算该综合误差：

err＝a1*f(vtlin-median(∑vtlini))+a2*f(vtsat-median(∑vtsati))+a3*f(idlin-median(∑idlini))+a4*f(idsat-median(∑idsati))+a5*f(vtgm-median(∑vtgmi))+a6*f(ioff-median(∑ioffi))+a7*f(gm-median(∑gmi))+a8*f(gdx-median(∑gdxi))

其中，vtlin，vtsat，vtgm，idlin，idsat，ioff，gm，gdx为测试结果的各项指标，ai代表各项指标的比重系数；f()代表归一化函数，median(∑vtlini)代表一颗器件的mapping数据的vtlin取median值，其他项同理，err为综合误差，与median数据综合误差值最小的器件即是最优器件。

进一步地，a1+a2+…+a8＝1。

与现有技术相比，本发明一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统通过对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行归一化处理，并根据建模需求对各项指标设定不同比重，最后利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，以选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模，本发明载入mapping测试数据后可直接对每个尺寸的器件选出最优器件，使用方便且快捷，并且可根据实际需要选择最优器件的个数。

附图说明

图1为本发明一种器件建模中最优器件的自动选择方法的步骤流程图；

图2为本发明一种器件建模中最优器件的自动选择系统的系统架构图；

图3为本发明具体实施例中将vtlin、idsat进行归一化的示意图；

图4(a)-图4(d)为本发明具体实施例的仿真图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例并结合附图说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。

图1为本发明一种器件建模中最优器件的自动选择方法的步骤流程图。如图1所示，本发明一种器件建模中最优器件的自动选择方法，包括如下步骤：

步骤101，根据mapping测试的结果，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标vtlin，vtsat，vtgm，idlin，idsat，ioff，gm，gdx等进行计算获取。

步骤102，将各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重。因为各项指标不是同一量纲的项，不可以直接加权求和，因此需要作归一化，例如将vtlin、idsat做归一化的过程如图3所示，根据mapping测试的结果，画出vtlin对idsat的散点图,拟合得到一个线性方程，即是vtlin与idsat的关系式，代表了具体器件vlin变化一定范围，idsat会对应变化一个值，这个过程遵循由mapping数据拟合得到的线性方程,其他项的归一化过程同理。

步骤103，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模。在本发明中，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件计算综合误差，综合误差值最小的器件则为最优器件，在本发明具体实施例中，利用如下计算公式计算各个器件的综合误差：

err＝a1*f(vtlin-median(∑vtlini))+a2*f(vtsat-median(∑vtsati))+a3*f(idlin-median(∑idlini))+a4*f(idsat-median(∑idsati))+a5*f(vtgm-median(∑vtgmi))+a6*f(ioff-median(∑ioffi))+a7*f(gm-median(∑gmi))+a8*f(gdx-median(∑gdxi))

其中，ai代表各项的比重系数，a1+a2+…+a8＝1；f()代表归一化函数，median(∑vtlini)代表一颗器件的mapping数据的vtlin取median值，其他项同理，err为综合误差，与median数据综合误差值最小的器件即是最优器件。

图2为本发明一种器件建模中最优器件的自动选择系统的系统架构图。如图2所示，本发明一种器件建模中最优器件的自动选择系统，包括：指标获取单元201、归一化处理单元202以及最优器件选择单元203。

指标获取单元201，用于根据mapping测试的结果，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标vtlin，vtsat，vtgm，idlin，idsat，ioff，gm，gdx等进行计算获取。

归一化处理单元202，用于将指标获取单元201获取的各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重。由于各项指标不是同一量纲的项，不可以直接加权求和，因此需要作归一化，归一化处理单元202根据mapping测试的结果，画出vtlin对idsat的散点图,拟合得到一个线性方程，即是vtlin与idsat的关系式，代表了具体器件vlin变化一定范围，idsat会对应变化一个值，这个过程遵循由mapping数据拟合得到的线性方程。其他项的归一化过程同理

最优器件选择单元203，用于利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模。在本发明中，最优器件选择单元203利用设定的比重对各个不同尺寸的器件计算综合误差，综合误差值最小的器件则为最优器件，在本发明具体实施例中，最优器件选择单元203利用如下计算公式计算各个器件的综合误差：

err＝a1*f(vtlin-median(∑vtlini))+a2*f(vtsat-median(∑vtsati))+a3*f(idlin-median(∑idlini))+a4*f(idsat-median(∑idsati))+a5*f(vtgm-median(∑vtgmi))+a6*f(ioff-median(∑ioffi))+a7*f(gm-median(∑gmi))+a8*f(gdx-median(∑gdxi))

其中，ai代表各项的比重系数，a1+a2+…+a8＝1；f()代表归一化函数，median(∑vtlini)代表一颗器件的mapping数据的vtlin取median值，其他项同理，err为综合误差，与median数据综合误差值最小的器件即是最优器件。

可见，现有的器件建模中最优器件选择方法耗时且易出错，通常选择一次最优器件要花至少半个工作日的时间，如果过程中出现失误要重新进行选择，并且不能保证选择出的器件是最优的。本发明提出的新的最优器件选择方法，可以快速精准的选择出综合性能最好的器件进行器件建模，整个过程只花大约一分钟时间，并且应用非常简单不会出错，且选出的器件可以确保最优。

图4(a)-图4(d)为本发明具体实施例的仿真图。mapping是测试的mapping数据的trend，median是mapping数据的median值，sw是选出的最优器件的扫描曲线叠到trend上的结果，可见sw与median非常接近，即选出的器件为最优器件，实现了本发明的目的。

综上所述，本发明一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统通过对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行归一化处理，并根据建模需求对各项指标设定不同比重，最后利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，以选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模，本发明载入mapping测试数据后可直接对每个尺寸的器件选出最优器件，使用方便且快捷，并且可根据实际需要选择最优器件的个数。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰与改变。因此，本发明的权利保护范围，应如权利要求书所列。