X射线衍射分析

射线衍射仪技术（XRD）

1.X射线衍射仪技术（XRD）

X射线衍射（X射线衍射，XRD）。通过对材料进行 X射线衍射分析，可以分析材料的衍射图，以获得诸如材料组成，材料内部原子或分子的结构或形态等信息。 X射线衍射分析是研究物质的相和晶体结构的主要方法。当对一种物质（晶体或非晶体）进行衍射分析时，该物质会受到X射线的照射，从而产生不同程度的衍射现象。物质的组成，晶体形式，分子内键合方法，分子的构型和构象决定了物质的产生独特的衍射图样。X射线衍射法的优点是不破坏样品，无污染，速度快，测量精度高，可以得到很多有关晶体完整性的信息。因此，作为材料结构和 成分分析的现代科学方法，X射线衍射分析法已逐渐被广泛用于各个学科的研究和生产中。

 

2.X射线衍射仪技术（XRD）可以为客户解决的问题

（1）当材料由多种晶体成分组成时，需要区分每种成分的比例。XRD的相识别功能可用于分析每个结晶相的比例。

（2）许多材料的性能取决于结晶度。XRD结晶度分析可用于确定材料的结晶度。

（3）新材料的开发要求对材料的晶格参数有充分的了解。可以使用XRD快速测试晶格参数，从而为开发和应用新材料提供性能验证指标。

（4）在产品使用过程中会发生断裂和变形等故障现象，这可能涉及微观应力的影响。使用XRD可以快速确定微观应力。

（5）由于纳米材料的尺寸小，很容易形成附聚物，并且通常的粒度分析仪经常会给出错误的数据。纳米粒子的平均粒径可以通过X射线衍射线宽法（谢勒法）求出。

 

3.有关X射线衍射仪技术（XRD）的说明

（1）固体样品的表面>10×10mm，厚度大于5μm。表面必须是平坦的，并且可以与几块一起粘贴。

（2）对于片状和圆形样品，会出现严重的优选取向，衍射强度异常，需要提供测试方向。

（3）为了测量金属样品的微观应力（晶格畸变）和测量残余奥氏体，需要制备金相样品并进行常规抛光或电解抛光以消除表面应变层。

（4）粉末样品需要研磨至320目粒度，直径约40微米，重量大于5g。

 

4.应用实例

样品信息：将要发送的样品是白色粉末形式的珍珠粉。该测试中使用的设备是日本RigakuD/max2500的X射线衍射仪。

测试参数：管压力40KV，管流量200μA，Cu靶，衍射宽度DS=SS=1°，RS=0.3mm，扫描速度2.000（d？min-1），扫描范围10°〜80°。

 

 

测试结果：样品的主要成分是碳酸钙。