晶晟微纳 - 韬盛科技

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- ATE/SLT插座 - 老化插座 - 同轴

晶圆测试

- MEMS（微机电探针） - WST探针卡 - WLCSP探针卡 - Cobra探针卡

PCB(印制电路板)

- 老化板 - 探针卡电路板 - ATE（自动测试设备）负载板

弹性体测试插座

- 橡胶测试插座

设备

- Mini Handler（迷你自动分选机）
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苏州晶晟微纳半导体科技有限公司

晶晟微纳成立于2021年10月，坐落在美丽的苏州工业园区东沙湖畔。为客户提供全面先进的半导体晶圆测试解决方案。提供先进的纳米级探针的解决方案涵盖SOC, FPGA, Analog, Memory, IGBT, AI, Automotive 各类芯片的工程开发验证和量产的测试工具。
我们的设计团队拥有广泛的行业经验和网络，为客户提供专业的产品设计，以及相关产品的极限应用需求。
我们拥有一支专业从事MEMS制造和探测卡技术的技术精湛、敬业、积极进取的专业团队。
我们在充满挑战的环境中工作，为我们的专业人员提供了频繁的培训机会，并提供了一个系统，让他们随时了解最新发展。

晶圆测试

MEMS（微机电探针） WST探针卡 WLCSP探针卡 Cobra探针卡

MEMS（微机电探针）

● 电流CCC：高达800mA
● Pitch间距：小至60μm
● 引脚数：可达20000+
● 最佳共面性

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WST探针卡

● 良好的温度特性(-40C至125C)
● 接触力低，对CUP焊盘探头垫片设计无风险，从而延长测试寿命
● 设计简单，更换针头方便
● 可替换的测试头

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WLCSP探针卡

WLCSP（圆级芯片封装方式）是一种不同于传统封装工艺的新技术，即在晶片上完成测试。因此，可以有效地实现更小的轮廓和更高的密度。它能够实现高速、稳定的数据传输。双溶液开发并提供完美的WLCSP测试接口解决方案。

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Cobra探针卡

● 螺距可扩展性至100μm
● 最佳的平面性
● 多重空间变换选项
● 高引脚数和多点位：超过3000针
● 对Low_K和CUP板低压力探测
● 高电流解决方案：>1.0A

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PCB(印制电路板)

老化板探针卡电路板 ATE（自动测试设备）负载板

老化板

● 温度: 高达150摄氏度
● 寿命: 5000小时以上 / 高达 5lots

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探针卡电路板

● 自动测试机包括：93k，UltraFlex，J750HD，Chroma，ETS88，Accotest等
● 高引脚数
● 高密度
● 间距低至80μm

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ATE（自动测试设备）负载板

● 自动测试机包括：93k，J750HD，Chroma，ETS88，Accotest，T800等
● 层数: 50+
● 频率: 10Ghz+
● 焊盘间距: 200um

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弹性体测试插座

橡胶测试插座

橡胶测试插座

● 应用: FT／SLT／老化／Memory等测试
● Pitch间距范围：350μm~800μm
● 寿命：超过100,000T/D
● 接触电阻：小于等于100mΩ
● 接触力：10-40g/p
● 最大过载：大于250μm
● 超短的接触距离，大大降低了连接通路的电感＜0.2nH
● 适合各类高频应用，可以支持毫米波或者雷达相关
● 易于更换
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设备

Mini Handler（迷你自动分选机）

Mini Handler（迷你自动分选机）

● 自动测试自动测试及装盘
模式 A: Bin1/NG料分盘
模式 B: Tray in & Tray Maping
● 可对芯片进行预热处理 (可选配置)
● QR 代码读取（可选配置）
● 多料盘设计，可适用于长时间无人化测试
● 测试头可换型，适用于多种产品。
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