电镜扫描检测SEM/EDS分析表面形貌分析
纳米级微观形貌观察,常用的是SEM扫描电子显微镜,结合打能谱,就是X-射线能量色谱仪(EDS)相结合, 可以指定微区成分分析、测元素含量。
电镜扫描SEM:利用阴极所发射的电子束经阳极加速,由磁透镜加速后形成一束直径为几十埃到几千埃的电子束流,这束高能电子束轰击到样品表面会激发多种信息,经过分别收集,放大就能从显示屏上得到各种相应的图像。SEM主要利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像,可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析。
EDS:X-ray energy dispersive ,入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.X射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析,高能电子束轰击样品表面,激发各种信号。
EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
三本精密拥有独立电镜实验室,面向全国,提供扫描电镜SEM与EDS分析检测服务,寄样即测。
电镜扫描SEM与EDS分析分析案例:
形貌观察SEM
微观尺寸测量
IMC观察-SEM电镜观察
锡须观察
表面成分分析
颗粒观察
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